Durante la Conferenza “The Non-Invasive Analysis of Painted Surfaces”, promossa dallo Scientific Research Working Group and Painting Working Group dell’ICOM-CC, Austin Nevin ha presentato i risultati delle indagini in situ sui dipinti, e in particolare sui pigmenti semiconduttori, ottenuti mediante Fluorescence Lifetime Imaging (FLIM).
Le presentazioni tenute durante il partecipato convegno internazionale sono sono visibili online. Lo Smithsonian Institute si occuperà di realizzare una pubblicazione integrale dei risultati della conferenza (in stampa per il 2015).
Convegno ICOM-CC: “The Non-Invasive Analysis of Painted Surfaces”
20-21 Febbraio 2014, Washington DC