L’analisi XRF fornisce la composizione atomica delle superfici investigate. È ampiamente utilizzata nel campo dei beni culturali da molti anni in quanto è una tecnica relativamente semplice e veloce e può fornire informazioni circa la natura dei pigmenti. L’individuazione di elementi chiave può fornire la diretta identificazione dei pigmenti; in altri casi i dati forniti dall’analisi XRF sono completati e integrati con spettroscopie molecolari.
La strumentazione disponibile presso il CNR-ISTM è lo spettrometro ELIO della XGLab. Esso è costituito da un rivelatore Silicon Drift raffreddato tramite Peltier, con un’area attiva di 25 mm2 e una risoluzione di < 135eV alla riga Kα del Mn. La sorgente è il Rodio con una potenza massima di 50kV e corrente massima di 200 μA. La risoluzione spaziale è circa 1 mm.